反向連結 · 測量問題

雙狹縫是一種經典的物理實驗裝置，用來演示[[光]]的波動性質。當單色光通過兩條平行且極窄的縫隙時，光波會在縫後方的屏幕上形成[[干涉]]條紋，這些明暗相間的條紋正是波動理論的直接證據。此實驗最早由[[托馬斯·楊]]在19世紀初提出，因而常被稱為[[楊氏雙狹縫實驗]]。 在[[波動光學]]的框架下，雙狹縫實驗揭示了光的疊加原理與相位關係，對後續的[[量子力學]

量子疊加是量子力學中的核心概念，指在同一時刻，微觀粒子可以同時處於兩種或以上不同狀態的線性组合，例如電子的自旋可以在↑與↓之間呈現疊加。根據[[波函數]]的描述，系統的状态可寫為|ψ⟩=α|0⟩+β|1⟩，其中係數α、β為複數，滿足歸一化條件|α|²+|β|²=1。當對系統進行[[測量]]時，疊加態會隨機「坍縮」到其中一個基底態，這就是著名的[[測量問題]]